VorwortÄnderungenFrühere AusgabenEinleitungAnwendungsbereichNormative VerweisungenBegriffeGrundlagen der TXRFAllgemeinesStrahlführungModulation der PrimärstrahlungMesswinkel in der TXRFStrahlprojektionStehende Röntgenwellen (XSW, en: X-ray standing waves)Reflexion an SchichtsystemenFluoreszenzintensitätKalibrierung und QualitätskontrolleWinkelkalibrierungEnergiekalibrierungKalibrierung der ElementempfindlichkeitenQualitätskontrolle der ProbenanregungQualitätskontrolle der ElementdetektionProben und ProbenvorbereitungProbentypenProbenträger und ProbenvorbereitungAllgemeinesProbenträgerProbenvorbereitung von Tropfenproben (Residuen)Probenvorbereitung von partikulären ProbenProbenvorbereitung von SchichtprobenQuantitative AnalyseVerfahren der quantitativen AnalyseVorbereitung einer Messung zur quantitativen AnalyseDurchführung einer quantitativen Analyse nach dem elementspezifischen Empfindlichkeitsverfahren (interne Standardisierung)Ringversuch zum Beleg der Wiederholbarkeit und Richtigkeit der TXRF-SpektroskopieMetrologische Rückführbarkeit (en: Traceability) in der TXRFKalibrierung mittels Ni-Bulk-Probe und Fresnelsche Funktionen, Fresnelsche Reflektivität, Beugung und Totalreflexion, Untergrundkorrektur, Peakkorrektur, Spektrenentfaltung (normativ)Kalibrierung mittels Ni-Bulk-Probe und Fresnel-FunktionenFresnelsche Reflektivität, Beugung und TotalreflexionUntergrundkorrektur, Peakkorrektur, SpektrenentfaltungLiteraturhinweise