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Halbleiterbauelemente - Bias-Temperaturstabilitätsprüfung für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)

Digital adressierbare Schnittstelle für die Beleuchtung - Teil 225: Besondere Anforderungen für Betriebsgeräte - Adaptive Fluchtwegbeleuchtung (Gerätetyp 24)(IEC 34/1199/NP:2024)

Digital adressierbare Schnittstelle für die Beleuchtung - Teil 351: Besondere Anforderungen - Steuergeräte - Leuchten-montierte Steuergeräte (IEC 62386-351:2025); Deutsche Fassung EN IEC 62386-351:2025

Strahlenschutz-Messgeräte - Dosimetriesysteme mit integrierenden passiven Detektoren zur Personen-, Arbeitsplatz- und Umgebungsüberwachung auf Photonen- und Betastrahlung; Deutsche und Englische Fassung EN IEC 62387:2022/prAB:2025

Kernkraftwerke - Leittechnik mit sicherheitstechnischer Bedeutung - Widerstands-Temperaturfühler (IEC 62397:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62397:2026

Obsoleszenzmanagement - Teil 1: Richtlinien, Plan und Prozess (IEC 56/2122/CD:2025)

Obsoleszenzmanagement - Teil 2: Vorhersage der Obsoleszenzkosten (56/2056/CD:2024)

Obsoleszenzmanagement - Teil 3: Austausch von Informationen über die Änderung und Einstellung von Produkten (56/2047/CD:2024)

EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)

Industrielle Kommunikationsnetzwerke - Hochverfügbare Automatisierungsnetzwerke - Teil 2: Medienredundanzprotokoll (MRP)