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Geräte zur industriellen Prozesssteuerung - Strahlungsthermometer - Teil 1: Technische Daten für Strahlungsthermometer

Geräte zur industriellen Prozesssteuerung - Strahlungsthermometer - Teil 2: Bestimmung der technischen Spezifikationen von Strahlungsthermometern

Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-6: Nahfeldmusteranalyse von Multimode-Lichtwellenleitern mit rechteckigem(n) Kern(en) unter Verwendung der Methode des begrenzten Lichtstroms

Optische Leiterplatten - Teil 4-3: Schnittstellennormen - Konfektionierter OCB Wellenleiter mit 250 µm Raster MPO 16 Steckverbinder steckbaren einreihigem 32-Kanal PMT Steckverbinder (IEC 62496-4-3:2026); Deutsche Fassung EN IEC 62496-4-3:2026

Verfahren für beschleunigte Produktprüfungen (IEC 62506:2023); Deutsche Fassung EN IEC 62506:2023

Leitlinien zu den menschlichen Aspekten der Zuverlässigkeit (IEC 56/2030/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62508:2024

Leistung und Funktion von Photovoltaik-Batterieladereglern

Kalibrierung von abstimmbaren Laserquellen (IEC 62522:2024); Deutsche Fassung EN IEC 62522:2024

OPC Unified Architecture - Teil 1: Übersicht und Konzepte (IEC 65E/1039/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62541-1:2024

OPC Unified Architecture - Teil 2: Modell für die IT-Sicherheit (IEC 65E/1040/CDV:2024); Englische Fassung prEN IEC 62541-2:2024