OEVE/OENORM EN 61788-17:2013-12-01

Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten (IEC 61788-17:2013) (deutsche Fassung)

Englischer Titel: Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films (IEC 61788-17:2013) (german version)
Ausgabedatum: 2013-12-01
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 48

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