Norm-Entwurf [VORBESTELLBAR]
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Dieses Dokument legt ein Klassifizierungssystem für Methoden fest, die hauptsächlich für die Messung der Oberflächentopographie und Oberflächenbeschaffenheit angewendet werden. Es legt drei Klassen von Methoden fest, d. h. flächenhafte Topographiemethoden, volumetrische Methoden und flächenhaft integrierende Methoden, stellt die Zusammenhänge zwischen den Klassen dar, und beschreibt kurz spezifische Methoden. Darüber hinaus legt dieses Dokument die Elemente fest, die für ein funktionales Messsystem der Oberflächenbeschaffenheit erforderlich sind. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).
Gegenüber DIN EN ISO 25178-6:2010-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die eigenständige Klasse der Profilmethode wurde gelöscht; die frühere Klasse der Profilmethode ist nun in der Klasse der flächenhaften Topographiemethoden enthalten; b) eine neu entwickelte Methode, die Röntgen-Computertomographie, wird in eine neue Klasse, die der volumetrischen Methoden, aufgenommen; c) die Methode der isometrischen Stereoskopie wurde in die Klasse der flächenhaften Topographiemethoden aufgenommen, und die spezielle Methode der Rundheitsprofilmessung wird nicht mehr aufgeführt; d) die Definitionen der Benennungen "Oberflächenbeschaffenheit" und "Oberflächentopographie" wurden hinzugefügt; e) eine schematische Darstellung der Bestandteile, die für ein funktionales System zur Messung der Oberflächenbeschaffenheit erforderlich sind, wurde hinzugefügt; f) der informative Anhang A "Metrologische Beschränkungen" wurde gestrichen, und ein informativer Anhang A "Zusammenfassende Auflistung der Methoden zur Messung der Oberflächentopographie und der flächenhaft integrierenden Methoden" wurde hinzugefügt.