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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
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Dieses Dokument legt die Konstruktion und metrologischen Merkmale eines berührungslos messenden Geräts zur Messung der Oberflächentopographie fest, welches eine chromatisch konfokale Sonde verwendet, deren Funktion auf der axialen chromatischen Aberration von weißem Licht beruht. Zusätzliche messtechnische Merkmale können ISO 25178-600 entnommen werden. Da Oberflächenprofile aus Daten von Oberflächentopographien extrahiert werden können, können die meisten Verfahren, die in diesem Dokument festgelegt sind, auch auf Profilmessungen angewendet werden. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 25178-602:2025-12 .
Gegenüber DIN EN ISO 25178-602:2011-01 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) technische Überarbeitung der ersten Ausgabe; b) redaktionelle Überarbeitung des Dokuments.