Liebe Kundinnen und Kunden,
ab dem 23.Dezember 2025 ab 13:00 Uhr befinden wir uns in der Weihnachtspause und sind ab dem 5. Januar 2026 wieder persönlich für Sie erreichbar.
Bitte beachten Sie, dass neue Registrierungen sowie manuell zu bearbeitende Anliegen erst ab diesem Datum bearbeitet werden.
Bestellungen und Downloads können Sie weiterhin jederzeit online durchführen. Zudem finden Sie in unseren FAQ viele hilfreiche Informationen.
Wir wünschen Ihnen frohe Feiertage, eine erholsame Zeit und einen guten Start in ein gesundes neues Jahr!
Ihre DIN Media GmbH
Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
Produktinformationen auf dieser Seite:
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Dieses Dokument beschreibt die Konstruktionsmerkmale und die messtechnischen Merkmale von Geräten für die phasenschiebende Interferometrie zur flächenhaften Messung von Oberflächentopographien. Da Oberflächenprofile aus Daten der flächenhaften Oberflächentopografie extrahiert werden können, können die in diesem Dokument beschriebenen Verfahren auch auf Profilierungsmessungen anwendet werden. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 25178-603:2025-12 .
Gegenüber DIN EN ISO 25178-603:2014-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) technische Überarbeitung der ersten Ausgabe; b) Norm redaktionell überarbeitet.