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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
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Dieses Dokument legt die Konstruktion und metrologischen Merkmale von CSI-Systemen zur Messung von Oberflächentopographien fest. Da Oberflächenprofile aus Daten von Oberflächentopographien extrahiert werden können, können die meisten Begriffe, die in diesem Dokument festgelegt sind, auch auf Profilmessungen angewendet werden. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 25178-604:2025-12 .
Gegenüber DIN EN ISO 25178-604:2013-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) technische Überarbeitung der ersten Ausgabe; b) redaktionelle Überarbeitung des Dokuments.