Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
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Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden.
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 9220:2022-05 .
Gegenüber DIN EN ISO 9220:1995-01 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Hinzufügung von zwei weiteren Kalibrierverfahren in 5.2, 8.2 und 8.3; b) Streichung von technisch veralteten Inhalten, die die Instabilität von REM und analogen Fotos oder den Betrieb von REM betreffen [Streichung der alten Unterabschnitte 6.11, 6.12, 6.13, 8.4, 9.2.1, 9.2.2, 9.3, A.2.3, A.3.2, A.3.3, A.3.4 und A.3.7; Überarbeitung von Punkt e) in Abschnitt 12]; c) Betrachtung der Einflüsse von Abbildungsparametern auf die Messunsicherheit (neuer Unterabschnitt 6.11); d) Überarbeitung von Abschnitt 10 und Ergänzung von Anhang B mit Präzisionsdaten aus Ringversuchen; e) Überarbeitung von Anhang A zur (erneuten) Angleichung an ISO 1463:2021; f) Hinzufügung von Literaturhinweisen mit informativen Verweisungen; g) redaktionelle Überarbeitung.