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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN ISO 10110-7:2008-09 - Entwurf
Optik und Photonik - Erstellung von Zeichnungen für optische Elemente und Systeme - Teil 7: Oberflächenunvollkommenheiten (ISO 10110-7:2008)
- Englischer Titel
- Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 7: Surface imperfection tolerances (ISO 10110-7:2008)
- Erscheinungsdatum
- 2008-08-25
- Ausgabedatum
- 2008-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Erscheinungsdatum
- 2008-08-25
- Ausgabedatum
- 2008-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
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Der Norm-Entwurf beschreibt die Angabe der zulässigen Werte von Oberflächenunvollkommenheiten innerhalb der freien Öffnung von einzelnen optischen Elementen und optischen Baugruppen. Dies beinhaltet örtlich begrenzte Oberflächenunvollkommenheiten, Randaussprünge und Kratzer beliebiger Länge. Es ist zu beachten, dass der zulässige Wert von örtlich begrenzten Unvollkommenheiten so angegeben wird, dass er sowohl funktionelle Wirkungen (Schädigung des Bildaufbaus oder der Beständigkeit von optischen Elementen) als auch kosmetische Wirkungen berücksichtigt. Der Norm-Entwurf gilt sowohl für durchlässige und reflektierende Oberflächen von fertigen optischen Elementen, ob beschichtet oder nicht, als auch für optische Baugruppen. Er sieht vor, dass die zulässigen Unvollkommenheiten, entsprechend der durch sie beeinträchtigten Fläche, für die Komponenten oder für Baugruppen festgelegt werden dürfen.
Die Internationale Norm ISO 10110-7:2008 wurde vom ISO/TC 172/SC 1 "Grundnormen" unter Beteiligung deutscher Experten ausgearbeitet. Der zuständige nationale Arbeitsausschuss ist der NA 027-01-02 AA "Grundnormen der Optik" im NAFuO.
Dokument wurde ersetzt durch DIN ISO 10110-7:2009-06 .
Gegenüber DIN ISO 10110-7:2000-02 und DIN 58170-54:1980-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Begriffsänderung: Oberflächenfehler zu Oberflächenunvollkommenheiten; b) Begriffsänderung: Belagfehler zu Beschichtungsmängel; c) Erweiterung des Anwendungsbereiches auf optische Baugruppen; d) Einteilung der Unvollkommenheiten; e) Methode II "Sichtbarkeitskontrolle" zur Angabe von Oberflächenunvollkommenheiten entfällt; f) Prüfverfahren ergänzt; g) Anhänge A bis G entfallen; Anhang A "Vorzugswerte von Stufenzahlen und Aufteilungsfaktoren für Methode I", Anhang B "Beschreibung der Prüfstation für Methode II", Anhang C "Bestimmung der Sichtbarkeitsklassen für Methode II", Anhang D "Standardfehler zur Kalibrierung der Prüfstation für Methode II", Anhang E "Empfohlene Maße für künstliche Strukturen auf einer Größenvergleichsplatte für Methode I", Anhang F "Beispiele für die Angaben von zulässigen Oberflächenfehlern", Anhang G "Literaturhinweise" ; h) Vollständige Übernahme der Internationalen Norm ISO 10110-7:2008.