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Norm-Entwurf

ISO/DIS 13084:2025-03 - Entwurf

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Kalibrierung der Massenskale für einen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Ausgabedatum
2025-03
Originalsprachen
Englisch
Seiten
14

ab 74,40 EUR inkl. MwSt.

ab 69,53 EUR exkl. MwSt.

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2025-03
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