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Norm [AKTUELL]

DIN EN 61987-11:2018-08

Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 11: Merkmalleisten (ML) für Messgeräte für den elektronischen Datenaustausch - Allgemeine Strukturen (IEC 61987-11:2016); Deutsche Fassung EN 61987-11:2017

Englischer Titel
Industrial-process measurement and control - Data structures and elements in process equipment catalogues - Part 11: Lists of properties (LOPs) of measuring equipment for electronic data exchange - Generic structures (IEC 61987-11:2016); German version EN 61987-11:2017
Ausgabedatum
2018-08
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
69

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Ausgabedatum
2018-08
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
69
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2837808

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Einführungsbeitrag

Der Produktdatenaustausch zwischen Unternehmen, Geschäftssystemen, Engineering-Werkzeugen, unternehmensinternen Datensystemen und, in Zukunft, Leitsystemen (Elektro- und MSR-Technik) kann nur dann reibungslos stattfinden, wenn die auszutauschenden Informationen eindeutig definiert und ihre Verwendung geklärt ist. Bisher werden die Anforderungen an PLT-Geräte und Systeme durch den Kunden uneinheitlich spezifiziert und beim Lieferanten (Hersteller) angefragt. Die Lieferanten wiederum beschreiben die Geräte anhand ihrer eigenen Dokumentation in verschiedenen Strukturen und Systemen (Papier, Datenbank, CD, elektronischer Katalog). Ähnlich werden auch beim Planungs- beziehungsweise Entwicklungsprozess Geräteinformationen häufig wiederholt in unterschiedliche IT-Systeme eingegeben. Die Normenreihe DIN EN 61987 schlägt eine Vorgehensweise zur Vereinheitlichung vor und versetzt somit Lieferanten sowie Anwender von PLT-Geräten und Systemen in die Lage, Abläufe innerhalb ihrer Unternehmen und zwischen den Unternehmen zu optimieren. Dabei werden Messgeräte durch die Erstellung von Merkmalblöcken spezifiziert. Die Blöcke werden in Merkmalleisten (ML) zusammengefasst, die jeweils eine bestimmte Eigenschaft des Gerätes beschreiben. Diese Normenreihe enthält sowohl allgemeine Merkmale, die in einer Anfrage oder einem Angebot genutzt werden können, als auch detaillierte Merkmale zur Integration des Gerätes in Computersysteme für andere Aufgaben. In der IEC 61987-10 werden Strukturelemente für den Aufbau von Merkmalleisten für elektrische und prozessleittechnische Systeme definiert, um einen automatischen Datenaustausch zwischen zwei beliebigen Computersystemen in einem beliebigen Ablauf zu erleichtern, zum Beispiel in einem Engineering-, Instandhaltungs- oder Einkaufsprozess, und sowohl den Kunden als auch den Lieferanten der Geräte zu ermöglichen, ihre Prozesse und Abläufe zu optimieren. Teil 10 stellt außerdem das Datenmodell für die Zusammenstellung der Merkmalleisten zur Verfügung. In diesem Teil der IEC 61987 wird die allgemeine Struktur für Betriebs- und Gerätemerkmalleisten (BML und GML) spezifiziert. Er bildet den Rahmen für weitere Teile der IEC 61987, in denen vollständige Merkmalleisten für Gerätetypen spezifiziert werden, die eine bestimmte physikalische Größe messen und nach einem bestimmten Messprinzip vorgehen. Die allgemeine Struktur kann auch als Grundlage für die Spezifizierung von Merkmalleisten für andere Gerätetypen der industriellen Leittechnik, zum Beispiel Regelventile und Signalverarbeitungs-Geräte dienen. Zuständig ist das DKE/K 931 "Systemaspekte" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

ICS
25.040.40, 35.100.20, 35.240.50
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2837808
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 61987-11:2014-07 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 61987-11:2014-07 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Die Klassifikation in Tabelle A.1 wurde ergänzt, um die Änderungen im Klassifikationsschema für Prozessmessgeräte im CCD aufgrund der Entwicklung von IEC 61987-14, IEC 61987-15 und IEC 61987-16 wiederzugeben. b) Anhang A wurde "informativ".

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