Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Norm [AKTUELL]

NF C96-022-29:2012-08-01

NF EN 60749-29:2012-08-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: latch-up test
Ausgabedatum
2012-08-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
29

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2012-08-01
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