Norm [AKTUELL]
OEVE/OENORM EN 60749-33:2004-11-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-33:2004)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004)
- Ausgabedatum
- 2004-11-01
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Ausgabedatum
- 2004-11-01
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
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