DIN IEC 62215-3:2010-05 - Entwurf

Integrierte Schaltungen werden in unserer durch informationstechnische Anwendungen geprägten Welt in allen Bereichen der Automatisierung eingesetzt. Sie werden dabei insbesondere in industrieller Umgebung oder auch beim Einsatz in Fahrzeugen elektromagnetischen Störungen ausgesetzte, die zu Fehlfunktionen führen können. Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC; en: integrated circuit) gegenüber genormten leitungsgeführten transienten elektrischen Störungen fest. Die Störungen, die nicht notwendigerweise auf den Betrieb des zu prüfenden Bauelementes abgestimmt sind, werden an die Anschlüsse des IC über Koppelnetzwerke angelegt. Mit diesem Verfahren wird das Verständnis und die Einstufung von Wechselwirkungen zwischen leitungsgeführten transienten Störungen und der Beeinträchtigung der Funktion ermöglicht, die in ICs durch transiente Vorgänge innerhalb oder außerhalb des festgelegten Betriebsspannungsbereiches eingeführt werden. Das internationale Dokument IEC 47A/839/CD:2010 "Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method" (CD, en: Committee Draft) ist unverändert in diesen Norm-Entwurf übernommen worden. Dieser Norm-Entwurf enthält eine noch nicht autorisierte deutsche Übersetzung. Das internationale Dokument wurde vom SC 47A "Integrated circuits" der Internationalen Elektrotechnischen Kommission (IEC) erarbeitet und den nationalen Komitees zur Stellungnahme vorgelegt. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.