Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Kontaktlose Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes mit dem Wirbelstrom-Verfahren; Homogen dotierte Halbleiterscheiben

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50445:1992-04

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Kontaktlose Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes mit dem Wirbelstrom-Verfahren; Homogen dotierte Halbleiterscheiben

Englischer Titel
Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method; homogeneously doped semiconductor wafers
Ausgabedatum
1992-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
4

ab 36,70 EUR inkl. MwSt.

ab 34,30 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download 1

  • 36,70 EUR

  • 46,10 EUR

Versand (3-5 Werktage) 1

  • 47,20 EUR

  • 58,80 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

1

 Achtung: Dokument zurückgezogen!

Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
1992-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
4

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Normen mitgestalten

Verbindungen zu anderen Normen
Diese Norm zitiert
Diese Norm wird zitiert
Lade Empfehlungen...