Liebe Kundinnen, liebe Kunden,
es ist soweit:
Aus dem Beuth Verlag ist DIN Media geworden.
Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.
Um unsere neue Website problemlos nutzen zu können, bitten wir Sie, Ihren Browser-Cache zu leeren.
Herzliche Grüße
DIN Media
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Norm [AKTUELL]
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
In diesem Teil der Norm DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern für die Fälle festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind. Zwei Prüfarten sind beschrieben:
Für diesen Teil ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" zuständig.