DIN EN IEC 63185:2026-02

Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die Messung der Bandbreite dielektrischer Substrate unter Verwendung eines einzelnen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse berücksichtigt wird. Dieses Dokument beinhaltet die Grundlagen zur Messung, die Beschreibung des Messaufbaus, die Kalibrierung und die Durchführung und Auswertung der Messung. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Gegenüber DIN EN IEC 63185:2022-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die Obergrenze des anwendbaren Frequenzbereichs wurde von 110 GHz auf 170 GHz angehoben; b) Kreisscheibenresonatoren für Messungen umfassen jetzt einen mit Wellenleiterschnittstellen; c) durch die Berechnung der komplexen Permittivität der gemessenen Resonanzeigenschaften werden die Randfelder, basierend auf der Modenanpassungsanalyse, jetzt genauer beachtet. Dieses Dokument erhöht durch seine Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.