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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 60749-34:2010) (deutsche Fassung)

Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-34:2011-07-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 60749-34:2010) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010) (german version)
Ausgabedatum
2011-07-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

ab 108,47 EUR inkl. MwSt.

ab 101,37 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2011-07-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

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