Technische Regel Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1:2005-04 - Entwurf
Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung
- Englischer Titel
- Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement
- Ausgabedatum
- 2005-04
- Originalsprachen
- Deutsch, Englisch
- Seiten
- 38
- Ausgabedatum
- 2005-04
- Originalsprachen
- Deutsch, Englisch
- Seiten
- 38
Produktinformationen auf dieser Seite:
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Kurzreferat
Dieses Blatt behandelt die Grundkalibrierung der Interferenzmikroskope, die mit der Messung an ebenen und mit Stufen versehenen Flächen verbunden ist.
Inhaltsverzeichnis
ICS
17.180.01,
37.020
Ersatzvermerk
Dokument wurde ersetzt durch VDI/VDE 2655 Blatt 1.1:2008-03 .
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