JIS-Standards

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-1-2:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-2: General examination - Test 1b: Examination of dimension and mass

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-2-1:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a : Contact resistance - Millivolt level method

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-2-3:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2c: Contact resistance variation

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-2-6:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-6: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2f: Housing (shell) electrical continuity

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-3-1:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-4-2:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress tests - Test 4b: Partial discharge

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    JIS C 5402-4-3:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-3: Voltage stress tests - Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels

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    Norm [AKTUELL] 2005-03-20

    JIS C 5402-5-1:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-1: Current-carrying capacity tests - Test 5a: Temperature rise

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    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests - Test 5b: Current-temperature derating

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    JIS C 5402-6-1:2005-03-20 - Übersetzung: Englisch

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-1: Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state

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