Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Kontaktlose Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Halbleiterscheiben nach dem Wirbelstrom-Verfahren

Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50445:1989-07 - Entwurf

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Kontaktlose Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Halbleiterscheiben nach dem Wirbelstrom-Verfahren

Englischer Titel
Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method
Ausgabedatum
1989-07
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
8

47,20 EUR inkl. MwSt.

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1989-07
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Deutsch
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8

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