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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
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Dieses Dokument untersucht die Anforderungen einer akkuraten Messung von Lichtwellenleiterverbindungen ab dem Beginn der Gebrauchsdauer, im Verlauf des Lebenszyklus des Systems, beginnend bei dessen Installation. Dieser Teil erläutert spezifische Sachverhalte und Probleme in Bezug auf die Messung optischer Verbindungen und liefert Techniken zur Behandlung dieser Probleme. Dieses Dokument erläutert die Messung von Schlüsselparametern in Bezug auf die passive Schicht (das heißt Lichttransmission durch einen optischen Kabelbaum). Es behandelt keine Systemprüfungen, beispielsweise Bitfehlerraten. Der Entwurf der Norm EN 4533-002 wurde von der Standardisierungsorganisation ASD-STAN des Verbandes der Europäischen Luft-, Raumfahrt- und Verteidigungsindustrie - Normung (ASD), unter Mitwirkung deutscher Experten des DIN-Normenausschusses Luft- und Raumfahrt (NL) erarbeitet. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 131-04-10 AA "LWL und LWL-Komponenten" im DIN-Normenausschuss Luft- und Raumfahrt (NL).
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 4533-002:2025-08 .
Gegenüber DIN EN 4533-002:2018-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Erwähnung der Handelsmarken aus dem Dokument entfernt; b) Dokument redaktionell überarbeitet.