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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) (IEC 47/2882/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-26:2024

Norm-Entwurf

DIN EN IEC 60749-26:2025-10 - Entwurf

VDE 0884-749-26:2025-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) (IEC 47/2882/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-26:2024

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 47/2882/CDV:2024); German and English version prEN IEC 60749-26:2024
Erscheinungsdatum
2025-09-26
Ausgabedatum
2025-10
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
103

52,64 EUR inkl. MwSt.

49,20 EUR exkl. MwSt.

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Erscheinungsdatum
2025-09-26
Ausgabedatum
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Seiten
103
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Einführungsbeitrag

In diesem Dokument wird das Verfahren für die Prüfung, Bewertung und Klassifizierung von Bauteilen und Mikroschaltungen nach ihrer Anfälligkeit (Empfindlichkeit) gegen Beschädigung oder Funktionsbeeinträchtigung festgelegt, wenn diese Bauteile mit den im Human-Body-Modell (HBM) definierten elektrostatischen Entladungen (ESD) (englisch: electrostatic discharge) beansprucht werden. Der Zweck dieses Dokuments ist die Festlegung eines Prüfverfahrens, mit dem HBM-Ausfälle wiederholt erzeugt werden und welches ungeachtet der Art des Bauteils von Prüfeinrichtung zu Prüfeinrichtung zuverlässige und wiederholbare HBM-ESD-Prüfergebnisse liefert. Wiederholbare Daten lassen präzise Klassifizierungen und Vergleiche der HBM-ESD-Empfindlichkeitspegel zu. Es gibt keine besonderen Einschränkungen. Gegenüber DIN EN IEC 60749-26 (VDE 0884-749-26):2018-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) neue Definitionen wurden hinzugefügt; b) Text wurde hinzugefügt, um die Bezeichnung und die zulässigen Abweichungen aufgrund „geringer parasitärer Elemente“ zu erläutern. Die neue Bezeichnung umfasst die maximale Anzahl von Anschlüssen eines Bauelements, das das Prüfverfahren bestehen kann.

Ersatzvermerk
Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN IEC 60749-26 (VDE 0884-749-26):2018-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) neue Definitionen wurden hinzugefügt; b) Text wurde hinzugefügt, um die Bezeichnung und die zulässigen Abweichungen aufgrund „geringer parasitärer Elemente“ zu erläutern. Die neue Bezeichnung umfasst die maximale Anzahl von Anschlüssen eines Bauelements, das das Prüfverfahren bestehen kann.

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