Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensitäten in der Einzelionenzählung der dynamischen Sekundärionenmassenspektrometrie

Norm-Entwurf

ISO/DIS 20411:2026-07 - Entwurf

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensitäten in der Einzelionenzählung der dynamischen Sekundärionenmassenspektrometrie

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
Ausgabedatum
2026-07
Originalsprachen
Englisch
Seiten
17

ab 76,70 EUR inkl. MwSt.

ab 71,68 EUR exkl. MwSt.

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