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ISO/DIS 5618-2:2023-10 - Entwurf

Hochleistungskeramik - Prüfverfahren für GaN-Kristalloberflächendefekte - Verfahren zur Bestimmung der Lochzahldichte

Englischer Titel
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) --Test method for GaN crystal surface defects - Part 2: Method of determining the etch pit density
Ausgabedatum
2023-10
Originalsprachen
Englisch
Seiten
26

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