Richtlinie für die Analyse und Überprüfungsdaten bei der Strahlungsprüfung von Elektronikbauteilen

Norm [AKTUELL]

ASTM F 1263:2025

Richtlinie für die Analyse und Überprüfungsdaten bei der Strahlungsprüfung von Elektronikbauteilen

Englischer Titel
Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
Ausgabedatum
2025
Originalsprachen
Englisch
Seiten
3

ab 65,30 EUR inkl. MwSt.

ab 61,03 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2025
Originalsprachen
Englisch
Seiten
3
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F1263-25

Produktinformationen auf dieser Seite:

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ICS

31.020

DOI

https://dx.doi.org/10.1520/F1263-25
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