Anwendung eines Röntgenstrahlprüfgerätes (etwa gleichwertig 10-keV-Photonen) für die Prüfung der Wirkungen ionisierender Strahlung auf Bauelemente der Mikroelektronik

Norm [AKTUELL]

ASTM F 1467:2025

Anwendung eines Röntgenstrahlprüfgerätes (etwa gleichwertig 10-keV-Photonen) für die Prüfung der Wirkungen ionisierender Strahlung auf Bauelemente der Mikroelektronik

Englischer Titel
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (≈10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
Ausgabedatum
2025
Originalsprachen
Englisch
Seiten
18

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Ausgabedatum
2025
Originalsprachen
Englisch
Seiten
18
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F1467-25

Produktinformationen auf dieser Seite:

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ICS

31.020

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https://dx.doi.org/10.1520/F1467-25
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