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CIE-System für die Metrologie optischer Strahlung für ipRGC-beeinflusste Antworten auf Licht

Norm [AKTUELL]

CIE S 026:2018

CIE-System für die Metrologie optischer Strahlung für ipRGC-beeinflusste Antworten auf Licht

Englischer Titel
CIE System for Metrology of Optical Radiation for ipRGC-Influenced Responses to Light
Ausgabedatum
2018
Originalsprachen
Englisch
Seiten
36

ab 227,60 EUR inkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2018
Originalsprachen
Englisch
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36
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