DIN 32567-3:2025-05

Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 027-03-03 AA "Fertigungsmittel für Mikrosysteme" im Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO) bei DIN erarbeitet. Ziel der vorliegenden Norm ist die Empfehlung eines Verfahrens zur Bestimmung und Korrektur der systematischen Abweichungen taktiler topografischer Schichtdickenmessungen für den Fall, dass Schicht und Substrat unterschiedliche mechanische Eigenschaften aufweisen. Die Norm beschreibt Verfahren zur Bestimmung und Korrektur dieser systematischen Abweichungen für Tastschnittgeräte. Die Norm lässt sich auch auf scannend messende Koordinatenmessgeräte mit taktilem Sensor und Rasterkraftmikroskope im "contact mode" anwenden. Die Norm zielt in erster Linie auf die Materialpaarung weiche, nachgiebige Schicht auf hartem, steifem Substrat ab. Wichtigste Voraussetzung für die Anwendung der Norm ist die Möglichkeit der topografischen Schichtdickenmessung, das heißt, die Schicht muss als Profilstufe messbar sein. Anwenden lässt sich die Norm auf taktile Schichtdickenmessungen beliebiger Werkstücke.