Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der radialen Variation des spezifischen elektrischen Widerstandes an Silicium- oder Germanium-Scheiben mit dem Vier-Sonden-Gleichstromverfahren

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50435:1980-02

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der radialen Variation des spezifischen elektrischen Widerstandes an Silicium- oder Germanium-Scheiben mit dem Vier-Sonden-Gleichstromverfahren

Englischer Titel
Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices, by means of a four-point-DC-probe
Ausgabedatum
1980-02
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
3

33,10 EUR inkl. MwSt.

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1980-02
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Deutsch
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3
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