Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Oberflächenstruktur kreisförmiger, einkristalliner Halbleiterscheiben; Gesägte und geläppte Scheiben

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50442-1:1981-02

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Oberflächenstruktur kreisförmiger, einkristalliner Halbleiterscheiben; Gesägte und geläppte Scheiben

Englischer Titel
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices
Ausgabedatum
1981-02
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
3

ab 36,70 EUR inkl. MwSt.

ab 34,30 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download 1

  • 36,70 EUR

Versand (3-5 Werktage) 1

  • 47,20 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

1

 Achtung: Dokument zurückgezogen!

Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
1981-02
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
3
Lade Empfehlungen...

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Normen mitgestalten

Verbindungen zu anderen Normen
Diese Norm zitiert
Diese Norm wird zitiert
Lade Empfehlungen...