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Messung von Schichtdicken; Messung der Dicke von metallischen Schichten durch örtliches anodisches Ablösen; Coulometrisches Verfahren

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50955:1983-12

Messung von Schichtdicken; Messung der Dicke von metallischen Schichten durch örtliches anodisches Ablösen; Coulometrisches Verfahren

Englischer Titel
Measurement of coating thicknesses; measurement of thickness of metallic coatings by local anodic dissolution; coulometric method
Ausgabedatum
1983-12
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
6

ab 43,40 EUR inkl. MwSt.

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1983-12
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Deutsch
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6

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Dieses Dokument ersetzt DIN 50932:1971-06 , DIN 50955:1972-07 .

Dokument wurde ersetzt durch DIN EN ISO 2177:1995-01 , DIN EN ISO 2177:2004-08 .

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