Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN 51096:2008-07
Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV)
- Englischer Titel
- Testing of ceramic raw and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) and electrothermal vaporisation (ETV)
- Ausgabedatum
- 2008-07
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 26
- Ausgabedatum
- 2008-07
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 26
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Einführungsbeitrag
Diese Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Verunreinigungen Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V und Zr in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid fest. Das Verfahren gilt, in Abhängigkeit von den Haupteinflussgrößen Element, Wellenlänge, Plasmabedingungen und Einwaage, für Massenanteile der vorgenannten Verunreinigungen von etwa 0,1 mg/kg bis etwa 1 000 mg/kg, nach Prüfung auch von 0,001 mg/kg bis etwa 5 000 mg/kg.
Die Norm wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-02-64 AA "Chemische Analyse von nichtoxidischen keramischen Roh- und Werkstoffen" des NMP erarbeitet.
Inhaltsverzeichnis
ICS
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 15991:2011-04 .