Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001

Norm [AKTUELL]

DIN EN 60512-25-3:2002-08

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001

Englischer Titel
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation (IEC 60512-25-3:2001); German version EN 60512-25-3:2001
Ausgabedatum
2002-08
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Ausgabedatum
2002-08
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
13
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9253482
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31.220.10

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