Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-2:2003-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck (IEC 60749-2:2002); Deutsche Fassung EN 60749-2:2002

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002

Ausgabedatum

2003-04

Barrierefreiheit

Zum Grad der Barrierefreiheit dieses Dokuments können wir zurzeit keine Angaben machen.

Noch nicht bestimmt

Barrierefreiheit noch nicht geprüft

E-Books

Bitte schauen Sie später noch einmal nach. Informationen zum Grad der Barrierefreiheit finden Sie hier spätestens, sobald das E-Book bestellbar ist.

Normen, Technische Regeln, E-Learnings und andere Angebote ohne Buchcharakter

Diese Produkte gehören nicht zum Anwendungsbereich des Barrierefreiheitsstärkungsgesetzes (BFSG §1, Abs. 3).

Originalsprachen

Deutsch

Seiten

8

Hinweis

Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.