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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-24:2004); Deutsche Fassung EN 60749-24:2004

Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-24:2004-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-24:2004); Deutsche Fassung EN 60749-24:2004

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004); German version EN 60749-24:2004
Ausgabedatum
2004-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11

ab 67,70 EUR inkl. MwSt.

ab 63,27 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2004-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9569083

Produktinformationen auf dieser Seite:

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ICS

31.080.01

DOI

https://dx.doi.org/10.31030/9569083
Ersatzvermerk
Änderungsvermerk

Die im Kapitel 3, Abschnitt 4C von DIN EN 60749:2002-09 festgelegten Prüfverfahren wurden unter Berücksichtigung von IEC/PAS 62336 vollständig überarbeitet, sodass das Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm der Reihe DIN EN 60749 beschrieben werden kann.

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