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Norm [AKTUELL]
DIN EN 60749-35:2007-03
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik (IEC 60749-35:2006); Deutsche Fassung EN 60749-35:2006
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006
- Ausgabedatum
- 2007-03
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 21
- Ausgabedatum
- 2007-03
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 21
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9832621
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