Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 61000-4-20 Berichtigung 1:2012-09
VDE 0847-4-20 Berichtigung 1:2012-09
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) - Teil 4-20: Prüf- und Messverfahren - Messung der Störaussendung und Störfestigkeit in transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern (IEC 61000-4-20:2010); Deutsche Fassung EN 61000-4-20:2010, Berichtigung zu DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07
- Englischer Titel
- Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides (IEC 61000-4-20:2010); German version EN 61000-4-20:2010, Corrigendum to DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07
- Ausgabedatum
- 2012-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 3
- Ausgabedatum
- 2012-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 3
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Einführungsbeitrag
Diese Berichtigung 1 dient der Korrektur von Übersetzungsfehlern in der Deutschen Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2010, welche die Internationale Norm IEC 61000-4-20:2010 übernimmt. Die Deutsche Fassung wurde als DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07 veröffentlicht. Sie gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) eingesetzt werden. Diese beinhalten offene Strukturen (zum Beispiel Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (zum Beispiel TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Zuständig sind die UK 767.3 "Hochfrequente Störgrößen" und UK 767.4 "Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 61000-4-20:2025-03; VDE 0847-4-20:2025-03 .