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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
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Die Norm enthält die Deutsche Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2003 + A1:2007 und ist identisch mit der Internationalen Norm IEC 61000-4-20:2003 und ihrer Änderung AMD 1:2006. Sie gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) eingesetzt werden. Diese beinhalten offene Strukturen (zum Beispiel Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (zum Beispiel TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Der Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab. Prüflinge, die im TEM-Wellenleiter geprüft werden sollen, müssen klein sein, und es dürfen keine Leitungen angeschlossen sein.
In der Norm wurden unter anderem die normativen Verweisungen aktualisiert und die Bezüge zu IEC 61000-4-3 gestrichen.
Für die Norm sind das DKE/UK 767.3 "Hochfrequente Störgrößen" und DKE/UK 767.4 "Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen" zuständig.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 61000-4-20:2003-10; VDE 0847-4-20:2003-10 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 61000-4-20:2011-07; VDE 0847-4-20:2011-07 .
Gegenüber DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2003-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Ergänzung im Abschnitt 1 "Anwendungsbereich" zur Streichung der Bezüge zur IEC 61000-4-3; b) Streichung der IEC 61000-4-3 im Abschnitt 2 "Normativen Verweisungen" und Verschiebung in die Literaturhinweise am Ende der Norm; c) Herstellung der chronologischen Reihenfolge der Bildnummern; d) Ergänzung der Festlegungen zur Eignungsprüfung von Messplätzen in 8.2; e) Änderungen in Anhang B zur Streichung der Bezüge zur IEC 61000-4-3; f) redaktionelle Überarbeitung der Norm.