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Norm [AKTUELL]
DIN EN 61788-15:2012-08
VDE 0390-15:2012-08
Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-15:2011); Deutsche Fassung EN 61788-15:2011
- Englischer Titel
- Superconductivity - Part 15: Electronic characteristic measurements - Intrinsic surface impedance of superconductor films at microwave frequencies (IEC 61788-15:2011); German version EN 61788-15:2011
- Ausgabedatum
- 2012-08
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 48
- Ausgabedatum
- 2012-08
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 48
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Dieser Teil der IEC 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (ZS) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen ZS bei der Resonanzfrequenz zu erhalten. Der Frequenzbereich und die Messauflösung für das intrinsische ZS von HTS-Filmen sind wie folgt: - Frequenz: zirka 40 GHz - Messauflösung: 0,01 Milliohm bei 10 GHz Die Daten für das intrinsische ZS bei der gemessenen Frequenz sowie die - unter der Annahme des f2-Gesetzes für den intrinsischen Oberflächenwiderstand RS (f < 50 GHz) und des f-Gesetzes für die intrinsische Oberflächenreaktanz XS zum Vergleich - auf 10 GHz skalierten Daten sollen angegeben werden. Zuständig ist das Arbeitsgremium K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.