Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2026); Deutsche Fassung EN IEC 62132-8:2026

Norm [VORBESTELLBAR]

DIN EN IEC 62132-8:2026-12

VDE 0847-22-8:2026-12

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2026); Deutsche Fassung EN IEC 62132-8:2026

Englischer Titel
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (IEC 62132-8:2026); German version EN IEC 62132-8:2026
Ausgabedatum
2026-12
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Einführungsbeitrag

Dieser Teil von IEC 62132 legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC, en: integrated circuit) gegen hochfrequente, gestrahlte, elektromagnetische Störgrößen unter Verwendung einer IC-Streifenleitung fest. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Durch seine Anwendung erhöht das Dokument die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboratorien und Herstellern definierte Informationen für die Prüfung und erhöht die Kompatibilität der Produkte zwischen den Herstellern.

Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 62132-8:2013-03; VDE 0847-22-8:2013-03 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 62132-8 (VDE 0847-22-8):2013-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz wurde aus dem Anwendungsbereich gestrichen; b) obere Nutzfrequenz auf 6 GHz oder mehr erweitert, solange die festgelegten Anforderungen erfüllt werden.

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