Norm [AKTUELL]
DIN EN IEC 62496-2-5:2024-04
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-5: Biegsamkeitstest für biegsame opto-elektrische Schaltkreise (IEC 62496-2-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62496-2-5:2023
- Englischer Titel
- Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2-5: Flexibility test for flexible opto-electric circuits (IEC 62496-2-5:2022); German version EN IEC 62496-2-5:2023
- Ausgabedatum
- 2024-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 22
- Ausgabedatum
- 2024-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 22
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/3503393
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Einführungsbeitrag
Das Dokument wird zur Prüfung von flexiblen opto-elektrischen Leiterplatten angewendet. Das Dokument beschreibt den Prüfaufbau und die Prüflinge, sowie die notwendigen Zyklen und sonstige Parameter. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Flexible opto-elektrischen Schaltkreise werden üblich in beweglichen Anwendungen eingesetzt. Ihre Zuverlässigkeit und die Beanspruchung wird durch diese Prüfung simuliert und festgestellt. Dieses Dokument erhöht durch seine Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung und sichert Kompatibilität über Herstellergrenzen hinweg.