Norm [AKTUELL]
DIN EN IEC 63287-1:2023-09
Halbleiterbauelemente - Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern - Teil 1: Leitlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation (IEC 63287-1:2021); Deutsche Fassung EN IEC 63287-1:2021
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification (IEC 63287-1:2021); German version EN IEC 63287-1:2021
- Ausgabedatum
- 2023-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 46
- Ausgabedatum
- 2023-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 46
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/3425885
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Einführungsbeitrag
Dieser Teil von IEC 63287 enthält Leitlinien für Qualifikationspläne zur Zuverlässigkeit von integrierten Halbleiter-IC-Produkten. Dieses Dokument ist nicht für Militär- und Raumfahrtanwendungen vorgesehen.
ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3425885
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749-43:2018-05 .
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749-43:2018-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Dokument wurde umbenannt und neu nummeriert, um es von IEC 60749 (alle Teile) zu unterscheiden; b) ein neuer Abschnitt im Zusammenhang mit dem Konzept der Familie wurde hinzugefügt und der bestehende Text wurde entsprechend neu nummeriert.
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