Liebe Kundinnen und Kunden,
ab dem 23.Dezember 2025 ab 13:00 Uhr befinden wir uns in der Weihnachtspause und sind ab dem 5. Januar 2026 wieder persönlich für Sie erreichbar.
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Bestellungen und Downloads können Sie weiterhin jederzeit online durchführen. Zudem finden Sie in unseren FAQ viele hilfreiche Informationen.
Wir wünschen Ihnen frohe Feiertage, eine erholsame Zeit und einen guten Start in ein gesundes neues Jahr!
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Norm [AKTUELL]
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In diesem Dokument ist ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke von Metall-, Oxid- und Emailschichten durch mikroskopische Untersuchung von Querschliffen mit einem Lichtmikroskop festgelegt. Dieses Dokument wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 107 "Metallic and other inorganic coatings" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 262 "Metallische und andere anorganische Überzüge, einschließlich des Korrosionsschutzes und der Korrosionsprüfung von Metallen und Legierungen" erarbeitet, dessen Sekretariat von BSI (Vereinigtes Königreich) gehalten wird. Das zuständige deutsche Gremium ist der NA 062-01-61 AA "Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).
Dieses Dokument ersetzt DIN EN ISO 1463:2004-08 .
Gegenüber DIN EN ISO 1463:2004-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Aufnahme der digitalen Bildverarbeitung für Lichtmikroskope; b) Aufnahme weiterer Hinweise und Verfahren zur Präparation von Querschliffen; c) Streichung einiger gefährlicher Ätzrezepturen aus Anhang C; d) redaktionelle Änderungen.