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Norm [AKTUELL]
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Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke der auf das Leder aufgebrachten Deckschicht fest, wobei sie bei der Messung nicht zusammengedrückt wird. Das Verfahren gilt für alle Lederarten. Ein Schnitt des Leders wird senkrecht zur Deckschicht entnommen. Die Dicke der Oberflächendeckschicht wird mit einem Mikroskop bestimmt und sowohl als Dicke als auch als prozentualer Anteil der Gesamtdicke angegeben. EN ISO 17186/IUP 41:2011 wurde vom Technischen Komitee ISO/TC IULTCS "International Union of Leather Technologists and Chemists Societies" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 289 "Leder" erarbeitet, dessen Sekretariat vom UNI gehalten wird. Für diese Norm ist das Gremium NA 062-05-51 AA "Anforderungen und physikalische Prüfverfahren für Leder und seine Ausgangsprodukte" im DIN zuständig.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN ISO 17186:2003-10 .
Gegenüber DIN EN ISO 17186:2003-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) 4.1 "Lichtmikroskop oder Rasterelektronenmikroskop" wurde erweitert; b) 4.3, 4.4 und 5.4 wurden gestrichen; c) Anmerkung 2 in 5.3 gestrichen; d) Abschnitt 6 "Durchführung" wurde fachlich überarbeitet, ein zweites Verfahren wurde aufgenommen.