Liebe Kundinnen und Kunden,
ab dem 23.Dezember 2025 ab 13:00 Uhr befinden wir uns in der Weihnachtspause und sind ab dem 5. Januar 2026 wieder persönlich für Sie erreichbar.
Bitte beachten Sie, dass neue Registrierungen sowie manuell zu bearbeitende Anliegen erst ab diesem Datum bearbeitet werden.
Bestellungen und Downloads können Sie weiterhin jederzeit online durchführen. Zudem finden Sie in unseren FAQ viele hilfreiche Informationen.
Wir wünschen Ihnen frohe Feiertage, eine erholsame Zeit und einen guten Start in ein gesundes neues Jahr!
Ihre DIN Media GmbH
Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
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Dieses Dokument ersetzt DIN ISO 10110-14:2004-02 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN ISO 10110-14:2019-09 .
Gegenüber DIN ISO 10110-14:2004-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Änderung von Begriffen: - bisher: Pfeilhöhenfehler (en: sagitta error), jetzt: Pfeilhöhenabweichung (en: sagitta deviation); - bisher: rotationssymmetrische Unregelmäßigkeit (en: rotationally symmetric irregularity), jetzt: rotationsinvariante Unregelmäßigkeit (en: rotationally invariant irregularity); - bisher: rms-Asymmetrie der Wellenfront (en: rms wavefront asymmetry), jetzt: rms der rotationsabhängigen Unregelmäßigkeit (en: rms rotationally varying wavefront deviation); b) Abschnitt 4.2 "Einheiten": Verwendung der Einheit "Nanometer" neu aufgenommen; c) In ISO 14999-4 verschoben bzw. ersatzlos gestrichen wurden: - Abschnitt 3: alle Begriffe und die zugehörigen Definitionen; - Abschnitt 5 "nicht kreisförmige Prüfbereiche"; - Anhang A "Digitale Interfergrammauswertung"; - Anhang B "Visuelle Interferogrammauswertung"; d) Übernahme der Internationalen Norm ISO 10110 14:2007.