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IEC 60147-0D:1974

Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 0: Allgemeines und Terminologie; 4. Ergänzung

Englischer Titel

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.

Ausgabedatum

1974

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

51