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IEC 60147-1:1972

Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 1: Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte

Englischer Titel

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics

Ausgabedatum

1972

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

63