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IEC 60147-2:1963

Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren

Englischer Titel

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods

Ausgabedatum

1963

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

55